В ноябре 2020 года младший научный сотрудник НОЦ «Умные материалы и биомедицинские приложения» Кристина Гриценко посетила Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС» (г. Москва).
Исследователь проходила стажировку по приобретению опыта работы с установкой фокусированного ионного пучка, а также по освоению методики подготовки поперченных срезов образцов тонких ферромагнитных пленок для просвечивающей электронной микроскопии.
| Кристина Гриценко: |
| Целью поездки было освоение методики приготовления поперечных срезов образцов тонких пленок железоникелевых сплавов с помощью фокусированного ионного пучка (ФИПа). Сам процесс изготовления поперечных срезов тонких пленок требует очень точной приборной настройки, при этом большую роль играет опыт оператора в проведении экспериментов подобного рода. Эта методика позволила нам получить срезы образцов толщиной менее 100 нм, которые впоследствии мы исследовали с помощью просвечивающей электронной микроскопии. |
Стажировка состоялась в рамках реализации Программы повышения конкурентоспособности вуза (Проект 5–100).
Личный кабинет для cтудента
Личный кабинет для cтудента
Даю согласие на обработку представленных персональных данных, с Политикой обработки персональных данных ознакомлен
Подтверждаю согласие