В ноябре 2020 года младший научный сотрудник НОЦ «Умные материалы и биомедицинские приложения» Кристина Гриценко посетила Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС» (г. Москва). Исследователь  проходила стажировку по приобретению опыта работы с установкой фокусированного ионного пучка, а также по освоению методики подготовки поперченных срезов образцов тонких ферромагнитных пленок для просвечивающей электронной микроскопии.

Кристина Гриценко:

«Целью поездки было освоение методики приготовления поперечных срезов образцов тонких пленок железоникелевых сплавов с помощью фокусированного ионного пучка (ФИПа). Сам процесс изготовления поперечных срезов тонких пленок требует очень точной приборной настройки, при этом большую роль играет опыт оператора в проведении экспериментов подобного рода.  Эта методика позволила нам получить срезы образцов толщиной менее 100 нм, которые впоследствии мы исследовали с помощью просвечивающей электронной микроскопии».

Стажировка состоялась в рамках реализации Программы повышения конкурентоспособности вуза (Проект 5-100).

Исследователь БФУ им. И. Канта проходила стажировку на базе Национального исследовательского технологического университета «МИСиС»