С 28 июля по 4 августа 2020 года заведующий лабораторией сложных оксидов БФУ им. И. Канта Петр Швец принял участие в научной стажировке по теме «Дифракция электронов в сканирующем электронном микроскопе», организованной Институтом физики им. Л.В. Киренского (г. Красноярск).

Петр Швец:

«В течение этой недели мы с Александром Васильевичем Шабановым работали на микроскопе Hitachi SU3500. Одним из преимуществ данного оборудования является наличие детектора, который позволяет наблюдать дифракцию обратно отражённых электронов и исследовать кристаллическую структуру поверхностных слоёв с очень высоким пространственным разрешением (до сотен нанометров). В ходе стажировки мне был передан опыт работы с таким оборудованием на примере исследования моих образцов. В ходе работ в нашей лаборатории мы часто получаем тонкие плёнки различных оксидов, которые кристаллизуются в домены размерами несколько микрометров. Задача определения, как в точности ориентирован относительно подложки тот или иной домен, является весьма нетривиальной, и, вероятно, наилучшим способом её решения как раз и является дифракция отражённых электронов. В ходе стажировки мы исследовали мои образцы триклинного диоксида ванадия, для которых данный метод оказался очень информативным. Мы подтвердили данные, полученные в Калининграде (достаточно сложным и косвенным методом), а также получили ряд новых результатов, которые могут стать основой будущей публикации. По итогам стажировки можно сказать, что я освоил данный метод и готов самостоятельно проводить подобные измерения методом дифракции обратно отражённых электронов».

Стажировка состоялась в рамках реализации Программы повышения конкурентоспособности вуза (Проект 5-100).

2.jpg